积分商城

最新搜索： pads stm32自学笔记 电压电流采样 ucosii2.86 MODBUS-RTU 温度
您现在的位置是：首页 > 技术资料 > CMOS电路IDDQ测试电路设计
推荐星级：
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5

CMOS电路IDDQ测试电路设计

更新时间：2020-10-20 04:44:32 大小：217K 上传用户：gsy幸运查看TA发布的资源 标签：cmos电路 下载积分：1分 评价赚积分 （如何评价?） 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

针对CMOS集成电路的故障检测,提出了一种简单的IDDQ静态电流测试方法,并对测试电路进行了设计。所设计的IDDQ电流测试电路对CMOS被测电路进行检测,通过观察测试电路输出的高低电平可知被测电路是否存在物理缺陷。测试电路的核心是电流差分放大电路,其输出一个与被测电路IDDQ电流成正比的输出。测试电路串联在被测电路与地之间,以检测异常的IDDQ电流。测试电路仅用了7个管子和1个反相器,占用面积小,用PSpice进行了晶体管级模拟,实验结果表明了测试电路的有效性。

A simple built-in sensor design for quiescent current（IDDQ） testing of CMOS circuits is observing the output of the proposed circuit,whether the observed CMOS circuit has the physical defects can be main part of the proposed circuit is the current differential amplifying circuit,which has an output proportional to IDDQ of the observed CMOS proposed circuit is connected in series between the observed CMOS circuit and ground for observing the abnormal IDDQ,and it comprises 7 transistors and 1 inverter.A simulation is made on the proposed circuit at the transistor level using validity of the design is tested.

部分文件列表

文件名 大小
CMOS电路IDDQ测试电路设计.pdf 217K

【关注B站账户领20积分】

相关下载

全部评论(0)

暂无评论
评论赚积分>>

上传资源 上传优质资源有赏金

热门标签

更多>>

最新上传

  • 打赏
  • 30日榜单

热门下载

推荐下载

本站上的所有资源均为源于网上收集或者由用户自行上传，仅供学习和研究使用，无任何商业目的，版权归原作如有侵权，请 来信指出，本站将立即改正。

ICP许可证号：京ICP证070360号     21IC电子网 2000- 版权所有

京ICP备11013301号

京公网安备 11010802024343号