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基于ATxmega单片机的线阵CCD传感器尺寸测量系统的研究
资料介绍
随着电子测量技术的成熟和发展，使用CCD传感器进行无接触的尺寸测量，已成为工业自动化系统中的一种重要测量手段。使用CCD传感器与单片机控制系统设计而成的尺寸测量系统，具有准确度高、非接触、便于实现数据的自动化处理，且具有成本低、可靠性高等一系列优点。随着CCD技术的进步，必将在工业自动化系统中得到广泛的应用。
本论文的主要内容是探讨如何利用微控制器的技术进步，使用最新的处理器器件，实现一个低成本，高可靠性和高性能的CCD无接触尺寸测量系统。根据工程检测的要求，本文在总结国内外线阵CCD图像传感器研究的历史背景、关键技术以及发展态势的基础上，给出了一种基于ATxmega单片机的线阵CCD传感器尺寸测量系统的方案。
目前常用的CCD尺寸测量系统的方案通常是使用CPLD或FPGA给CCD传感器提供驱动时序信号，再经过高速AD将模拟信号数字化，在单片机的控制下完成数据的采集、存储和传输。这种方案采用元器件较多，设计复杂且成本较高。与之相比，本系统采用的方案，只需要一片ATxmega单片机，充分利用单片机丰富且功能强大的外设，来产生CCD需要的驱动信号。所以，本文提供的方案集成度高、可靠性好，并且大大节省了成本，具有较高的性价比。
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