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APD雪崩二极管测试系统的设计与实现

更新时间：2020-03-28 05:32:43 大小：5M 上传用户：gsy幸运查看TA发布的资源 标签：apd 雪崩二极管 下载积分：3分评价赚积分（如何评价?）打赏收藏评论(0) 举报

资料介绍

APD雪崩二极管作为高速光电系统的关键器件，随着光电技术的发展更显现出其重要性。而目前APD雪崩二极管测试主要依赖国外的设备，存在测试参数不完善和价格高的问题，不能满足APD管生产测试的需要，为此本论文开发了APD雪崩二极管测试系统。该系统采用集成度高的片上集成雪崩二极管(APD)偏置电压控制和光电流检测功能的器件，具有很好的防干扰性能，同时系统增加了光源，弥补了现有系统不能直接对APD管响应度测量的不足，实现了在同一台测试系统上快速的对APD管多种特性参数的测试。该系统可以对APD管的击穿电压、暗电流、响应度和倍增因子进行测试。

本文根据APD雪崩二极管的工作特点，确定系统测量的参数，制定用于APD测试系统的方案，主要研究APD测试的升压电路和微弱电流检测电路，以及用于产生光源的激光器驱动电路。该系统能够动态输出APD测试的电压，同时具有微弱电流检测的功能，APD测试的升压电路部分采用美信公司的MAX5026器件搭建的，输出电压高达60V，覆盖了APD工作的电压范围；APD的偏压控制和电流检测部分采用ADI公司的ADL5317器件进行搭建，内部集成了电压控制和镜像电流源，可以间接测量APD的电压和电流，不影响APD的工作；微弱电流的测量采用I-V变换的典型电路进行转换处理，选用的前放OPA376是低噪声、低偏置电流的精密放大器；此外系统独创的增加了光源，采用LD背光反馈的方式进行搭建，具有很好稳定性，使得APD测试更加完善。系统以DSPIC33FJ64单片机为核心处理器，进行数据采集和现场控制，并通过串口与液晶连接，软件对数据进行处理后在液晶上输出测试结果。

系统调试结果证明，本文中APD雪崩二极管测试系统方案，具有干扰小、成本低的特点，可以用于击穿电压、暗电流、响应度和倍增因子的测试，输出的光功率为-20～0dbm，满足APD响应度测试-10dbm的要求，系统方案是可行的，实现了对APD雪崩二极管的测试。