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传感器老化测试与寿命评估实验方法.docx
资料介绍
传感器老化测试与寿命评估实验方法
1 引言
传感器在使用过程中会逐渐老化，性能指标会随时间缓慢变化。老化测试的目的是评估传感器在长期使用中的性能退化规律，预测其有效使用寿命。本文介绍加速老化测试的方法和寿命评估流程。
2 加速老化测试方法
高温存储：将传感器置于高于正常工作温度的环境中（如85℃或125℃），持续数百至数千小时，定期测量性能参数的变化。
温度循环：在高温和低温之间反复切换（如-40℃—85℃），循环数百次，评估传感器在温度应力下的可靠性。
湿热老化：在高温高湿环境（如85℃/85%RH）下存储，评估湿度对传感器性能的影响。
3 寿命评估方法
Arrhenius模型：基于Arrhenius方程，由加速老化温度下的退化速率推算正常温度下的寿命。AF = exp(Ea/k × (1/T_use - 1/T_stress))，AF为加速因子，Ea为激活能，k为玻尔兹曼常数。
数据外推：记录加速老化过程中传感器性能参数的变化曲线，外推至性能指标超出允许范围的时间点。
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