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快速瞬变脉冲群测试的失败原因及对策
资料介绍
快速瞬变脉冲群测试的失败原因及对策
介绍了电子产品快速瞬变脉冲群形成机理及相应的测试方法，综合其他研究者的成果及笔者的实践经验 ．针对快速瞬变脉冲群影 响电子产品的不同特 点提 出了相应的埘 策方 案，以方便 电子产 品设计人 员及电磁兼容对策工程师在实际工作中参考 、验证 、改进和完善。
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| 快速瞬变脉冲群测试的失败原因及对策%5b1%5d.pdf | 471K |
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