积分商城

最新搜索： Labview W25Q64 电感计算 wh-500 300w

您现在的位置是：首页 > ebook > 半导体测试 > 提高半导体器件可靠性的新型测量技术

推荐星级：

已有 0人评价

贡献者：miracle 星级：0级

eBook分类

上周下载排名

文档说明:这本技术方面的电子书深入介绍了应力测量对硅/栅介质界面的损害，以及它与NBTI和高K薄膜电荷俘获等新的器件可靠性问题之间的关系。书中详细介绍了常见...

发布公司：吉时利公司

官方网站：http://www.Keithley.com.cn

浏览：10615次 下载：2次
贡献时间：2007-02-08 15:03:00

  • 请先登录,再下载此文件。

相关资料

半导体器件物理考研与学习指导 Ldq201221ic
半导体器件物理学习与考研指导(一) Ldq201221ic
电路分析与设计半导体器件及其基本应用（完整版） z00
《半导体器件物理（施敏）》高清扫描版 617页 z00
常用半导体器件介绍 z00
国外电子与通信教材系列《半导体器件基础》（中文版） z00
半导体器件介绍与应用（基础元件+基本应用+器件仿真） z00
GB_T+4937.1-2006半导体器件 机械和气候试验 第1部分_总则 江岚
半导体激光器可靠性测试的研究 六3无线电
半导体集成电路可靠性测试及其数据处理方法 xiaohei1810

近期下载

zynq系列ug585手册 1分 fskls
辉芒微IDE2.1.7 1分 mxf153163
常用Proteus元件库 0分 李老夫
基于STM32F407开发的一款示波器，还可... 2分 tianyi04
最新DSP6748例程，很全的，已经通过测... 9分 794937374

本站上的所有资源均为源于网上收集或者由用户自行上传，仅供学习和研究使用，无任何商业目的，版权归原作如有侵权，请 来信指出，本站将立即改正。

ICP许可证号：京ICP证070360号     21IC电子网 2000- 版权所有

京ICP备11013301号

京公网安备 11010802024343号