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NI半导体测试系统STS

更新时间:2018-06-15 17:24:48 大小:1M 上传用户:xielinghui查看TA发布的资源 浏览次数:1187 下载积分:0分 下载次数:56 次 标签: 出售积分赚钱 评价赚积分 ( 如何评价?) 收藏 评论(4) 举报

资料介绍

使用半导体测试系统降低测试成本 半导体测试系统(STS)系列产品是一套利用NI测试技术的产品级测试系统,适用于半导体生产测试环境。STS在完全封闭的测试头里面整合了NI PXI平台、TestStand测试管理软件以及LabVIEW图形化编程工具。它采用“集成到测试头”的设计,把产品的所有关键测试资源整合在一起,这些测试资源包括系统控制器、直流交流电源、射频仪器、待测设备接口以及分拣仪器和探头接口。这样的紧凑型设计减小了额外的占地空间,降低了功耗,减轻了传统ATE测试员的维护负担,从而节约了测试成本。此外,STS采用开放的、模块化的设计,使您可以利用最新的工业标准的PXI模块,获得更多的仪器资源和更强大的计算能力

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NI半导体测试系统STS 1M

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全部评论(4)

  • 2018-07-07 17:06:32zly1986ZLY

    文章非常详细的介绍了半导体测试系统的相关内容,学习了,谢谢!

  • 2018-07-04 13:56:04tpgf

    对于小白来说是很浅显易懂的东西

  • 2018-06-28 15:24:33lizhanpeng

    资料很好

  • 2018-06-27 08:04:56blust5

    下了看看

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