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基于虚拟仪器技术的手机翻盖耐久性测试系统
资料介绍
·摘要：本文介绍一种手机翻盖耐久性测试系统。该系统由National Instruments 公司的PXI-8186 控制器、PXI-7344、UMI-7764、YASKAWA 公司的SGDL-04AS 伺服单元和SGML-04AF12 伺服电机以及基于虚拟仪器的用户界面组成。该测试系统使用虚拟仪器使系统规模最小化，提高系统的稳定性且易于维护和扩展，操作界面友好。
部分文件列表
| 文件名 | 文件大小 | 修改时间 |
| 基于虚拟仪器技术的手机翻盖耐久性测试系统/基于虚拟仪器技术的手机翻盖耐久性测试系统.pdf | 247KB | 2009-04-01 23:37:24 |
| 基于虚拟仪器技术的手机翻盖耐久性测试系统/使用说明请参看右侧注释====〉〉.txt | 1KB | 2008-04-28 10:27:04 |
| 基于虚拟仪器技术的手机翻盖耐久性测试系统 | 1KB | 2010-05-04 11:06:40 |
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