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集成电路老化
资料介绍
】 本文充分利用分布式网络控制、 可编程A S I C技术及数据库技术， 在我国第三代集成电路高温动态老
化系统 B ' r I 2 1 X ) 0的基础上 ， 研制开发了新一代大规模集成电路高温动态老化系统 ， 其体系结构和性能指标较原系
统有很大的改进和提高。
部分文件列表
| 文件名 | 文件大小 | 修改时间 |
| 新一代大规模集成电路高温动态老化测试系统的研制.PDF | 202KB | 2008-10-16 09:38:00 |
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