积分商城

最新搜索： AD7794 apm32f407 KEIL5 STM32F030中文 classicladder DSP F28335

您现在的位置是：首页 > 个人中心 > zhangyiyu120的日志

上传资源列表

  • JESD51-2芯片热测试的国际标准

    大小：850K 更新时间：2020-09-22 下载积分：2分

    STANDARDIntegrated Circuits Thermal TestMethod Environment Conditions -Natural Convection (Still Air)芯片结温直接影响产品的性能、可靠性、质量和成本，通讯产品热设计重要目的之一就是保证芯片在设备工作温...

    标签：jesd51-2芯片热测试
Displaying 1-1 of 1 result.

上传资源 上传优质资源有赏金

zhangyiyu120

打赏TA

上传资料：1

下载资料：0

总收入：0.00元

搜索关注

本站上的所有资源均为源于网上收集或者由用户自行上传，仅供学习和研究使用，无任何商业目的，版权归原作如有侵权，请 来信指出，本站将立即改正。

ICP许可证号：京ICP证070360号     21IC电子网 2000- 版权所有

京ICP备11013301号

京公网安备 11010802024343号