您现在的位置是:首页 > 个人中心 > yang_alex的日志

上传资源列表

  • STC8H8K64U例程35-板上的32K xdata测试程序

    大小:74K 更新时间:2023-07-30 下载积分:2分

    本例程基于STC8H8K64U为主控芯片的实验箱9进行编写测试,STC8G、STC8H系列芯片可通用参考. 测试外挂的32K xdata程序。 测试方式: 1: 写入0x55, 并读出判断是否全部是0x55. 2: 写入0xaa, 并读出判断是否全部是...

    标签:stc8h8k64u
  • STC8H8K64U例程34-P1.3做ADC-使用内部基准计算外部电压

    大小:20K 更新时间:2023-07-30 下载积分:2分

    本例程基于STC8H8K64U为主控芯片的实验箱9进行编写测试,STC8G、STC8H系列芯片可通用参考. 读ADC测量外部电压,使用内部基准计算电压. 用STC的MCU的IO方式驱动8位数码管。 使用Timer0的16位自动重装来产生1...

    标签:stc8h8k64u
  • STC8H8K64U例程33-IO模拟SPI访问FLASH-PM25LV040-串口2监控

    大小:2M 更新时间:2023-07-30 下载积分:2分

    本例程基于STC8H8K64U为主控芯片的实验箱9进行编写测试,STC系列芯片可通用参考. 通过串口2(P4.6 P4.7)对PM25LV040/W25X40CL/W25Q80BV进行读写测试。 对FLASH做扇区擦除、写入、读出的操作,命令指定地址。 ...

    标签:stc8h8k64u例程
  • STC8H8K64U例程32-硬件SPI访问FLASH-PM25LV040-串口2监控

    大小:2M 更新时间:2023-07-30 下载积分:2分

    本例程基于STC8H8K64U为主控芯片的实验箱9进行编写测试,STC8G、STC8H系列芯片可通用参考. 通过串口2(P4.6 P4.7)对PM25LV040/W25X40CL/W25Q80BV进行读写测试。 对FLASH做扇区擦除、写入、读出的操作,命令指定...

    标签:stc8h8k64uspiflash
  • STC8H8K64U例程31-IO扫描键红外发射-同时接收数码管显示用户码键值程序

    大小:26K 更新时间:2023-07-30 下载积分:2分

    本例程基于STC8H8K64U为主控芯片的实验箱9进行编写测试,STC8H系列芯片可通用参考. 红外收发程序。适用于市场上用量最大的NEC编码。 应用层查询 B_IR_Press标志为,则已接收到一个键码放在IR_code中, 处理完键...

    标签:stc8h8k64u数码管
Displaying 96-100 of 962 results.