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  • 半导体分立器件IV性能分析方案

    大小：85K 更新时间：2022-02-24 下载积分：1分

    随着器件几何尺寸的减小，半导体器件特性测试对测试系统的要求越来越高。通常这些器件的接触电极尺寸只有微米量级，这些对低噪声源表，探针台和显微镜性能都提出了更高的要求。

    标签：半导体器件性能分析IV测试
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