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贡献者：NIChina 星级：0级

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文档说明:本讲座总结过去30年以来自动化测试测量领域的发展趋势，并在此基础上展望新一代基于软件定义的PXI模块化仪器平台的系统架构。同时，结合PXI平台应用于...

发布公司：NI

官方网站：http://www.ni.com/

浏览：6362次 下载：0次
贡献时间：2012-03-20 08:00:00

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