提高半导体器件可靠性的新型测量技术— 电子书免费下载 | 电子工程师应用解决方案

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贡献者：miracle 星级：0级

文档说明:这本技术方面的电子书深入介绍了应力测量对硅/栅介质界面的损害，以及它与NBTI和高K薄膜电荷俘获等新的器件可靠性问题之间的关系。书中详细介绍了常见...

发布公司：吉时利公司

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贡献时间：2007-02-08 15:03:00

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