YDT1998.1-2009 接入网用单纤双向双端口光组件技术条件 用于基于以太网方式的无源光网络(

YDT1998.1-2009 接入网用单纤双向双端口光组件技术条件 用于基于以太网方式的无源光网络(EPON)的光组件 本部分规定了用于基于以太网方式的无源光网络（EPON）的单纤双向双端口光组件的技术要求、测试方法、机械和环境性能试验、检验规则、标志、包装、贮存和运输要求等。 本部分适用于基于以太网方式的无源光网络（EPON）的单纤双向双端口光组件（以下简称“组件”）。 2 规范性引用文件 下列文件中的条款通过本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。 GB/T 2828.1-2003计数抽样检验程序 第 1部分：按接收质量限（AQL）检索的逐批检验抽样计划 GB/T 9771（所有部分） 通信用单模光纤 YD/T 701-1993半导体激光二极管组件测试方法 YD/T 702-1993 PIN/FET 光接收组件测试方法 YD/T 834-1996分布反馈激光二极管检测方法 YDT 1419.2-2005SI/T 11363-2006接入网用单纤双向三端口光组件技术条件第2部分：用于基于以太网方式的无源光网络（EPON）光网络单元（ONU）的单纤双向三端口光组件电子信息产品中有毒有害物质的限量要求 SJ/T 11364-2006电子信息产品污染控制标识要求 IEEE 802.3ah-2004信息技术系统间通信和信息交换—局城网和城域网特定要求——第 3部分：CSMA/CD 接入方式和物理层规范一增补文件：用户接入网媒质接入控制参数、物理层和管理层参数 MIL-STD-202G电子和电气元件试验方法标准 MIL-STD-883G微电子器件试验方法标准 用于通信设备的光电器件通用可靠性保证要求 术语和定义 Telcordia GR-468-CORE：2004 YDIT 1419.2-2005中确立的术语和定义适用于本部分。 4缩略语 下列缩略语适用于本部分 BER Bit Error Ratio比特差错率 5.5 环保要求 组件的组成单元分类应符合SJT 11363-2006中表1的要求，有毒有害物质的含量应符合SJT 11363-2006 中表 2 的要求。 6 测试方法 6.1 测试环境要求 组件的性能测试应在下列标准大气条件下进行。 一温度：15℃~35℃ —相对湿度：45%~75%； -大气压力：86kPa~106kPa. 当不能在标准大气条件下进行时，应在试验报告上写明测试和试验的环境条件。 6.2 光电特性测试 6.2.1 发射工作波长范围 按 YD/T 701-1993 中 3.10 节规定进行测试，其值符合表 2、表 3 规定。 6.2.2 阈值电流 按 YD/T 701-1993 中 3.3 节规定进行测试，其值符合表 2、表 3 规定。 6.2.3 输出光功率 按YD/T 701-1993 中3.4节规定进行测试，其值符合表2、表3规定。 6.2.4 RMS 光谱宽度 按 YD/T 701-1993 中 3.10 节规定进行测试，其值符合表 2、表 3、表 4 规定。 6.2.5-20dB 光谱宽度 按 YD/T 834-1996 中 4.13 节规定进行测试，其值符合表 2、表 3 规定。 6.2.6 边模抑制比 按 YD/T 834-1996 中 4.13 节规定进行测试，其值符合表 2、表 3 规定。 6.2.7 正向电压 按 YD/T 701-1993 中 3.1 节规定进行测试，其值符合表 2、表 3 规定。 6.2.8 背光监视电流 按 YD/T 701-1993 中 3.9 节规定进行测试，其值符合表 2、表 3 规定。 6.2.9 跟踪误差 按 YD/T 701-1993 中 3.15 节规定进行测试，其值符合表 2、表 3 规定。 6.2.10 接收灵敏度 按 YD/T 702-1993 中 3.2.2 节规定进行测试，其值符合表 2、表 3 规定。 6.2.11 饱和光功率 按 YD/T 1419.2-2005 中 5.3.17 节规定进行测试，其值符合表 2、表 3 规定。 6.2.12 光串扰 按YD/T 1419.2-2005中 5.3.13.2 节规定进行测试，其值符合表2、表3规定. 6.2.13 隔离度 按YD/T 1419.2-2005 中 5.3.16.2 节规定进行测试，其值符合表 2、表3规定。 6.2.14 光回波损耗 按YD/T 1419.2-2005中5.3.15节规定进行测试，其值符合表2、表3规定. 7 机械和环境性能试验 7.1 试验环境要求 试验环境要求同 6.1 节， 8.2.1 常规检验 常规检验应百分之百进行，检验项目如下；a）光电性能检测 按本部分6.2节的规定进行检测，其值符合表2、表3的规定。 b）温度循环 非工作状态，极限温度-40℃、+85℃，循环次数20次，高、低温维持时间30min，温度变化速率10℃/min；恢复：在正常大气条件下恢复 1h 后测试 失效判据：输出光功率、灵敏度的变化量大于 1dB，阈值电流变化量大于 10% c）外观 目测，无明显划痕，无各种污点、镀层无脱落、起皮、锈蚀等现象；标志清断牢固。 8.2.2 抽样检验 从批量生产中生产的同批或若干批产品中，按GB/T2828.1-2003规定，取一般检查水平11，接收质量限（AQL）和检验项目如下 a）外观 AQL 取 1.5.检验方法：目测，表面无明显划痰，无各种污点，产品标识清晰牢固。 b）外形尺寸 AQL取 1.5.检验方法：用满足精度要求的量度工具测量，应符合产品技术条件规定。 c）光电性能检测 AQL取0.4.检验方法：按本部分6.2节的规定进行检测，其值符合表2、表3的规定。 8.3 型式检验 8.3.1 检验条件 组件有下列情况之一时，应进行型式检验： a）产品定型时；b）正式生产后，如结构、材料、工艺有较大改变，可能影响产品性能时；c）产品停产 12个月后，恢复生产时 d）出厂检验结果与鉴定时的型式检验有较大差别时： e）正常生产 36个月后 f）国家质量监督机构提出进行型式检验要求时。 8.3.2 型式检验项目及抽样方案 型式检验的项目及抽样方案见表5. 8.3.3 型式检验样品的处理 凡经受了型式检验的样品，一律不能作为合格品交付使用。 对不合格分组的产品，可进行返工，以纠正缺陷或筛除去失效产品，然后重新检验。如通过检验。 判为合格。但重新检验不得超过 2 次，并应清楚标明为重新检验批。 8.3.6 样品的使用 在不影响检验和试验结果的条件下，一组样品可用于其他分组的检验和试验。 8.3.7 检验批的组成 提交检验的批，可由一个生产批构成，或由符合下述条件的几个生产批构成这些生产批是在相同材料、工艺、设备等条件下制造出来的若干个生产批构成一个检验批的时间不超过1个月。 9 标志、包装、运输和贮存 9.1 标志 9.1.1 标志内容 每个产品应标明产品型号、规格、编号、批的识别代码等标志 9.1.2 标志要求 进行全部试验之后，标志应保持清晰，标志损伤了的产品必须重新打印标志，以保证发货之前标志的清晰完整。 9.1.3 污染控制标志 产品的污染控制标志应按SJT 11364-2006第5章规定，在包装盒和产品上打印上电子信息产品污染控制标志。 9.2 包装 产品应有良好的包装及防静电措施，避免在运输过程中受到损坏。包装盘上应标有产品名称、型号和规格、生产厂家、产品执行标准号、防静电标识、激光防护标志、绿色产品标志等。 包装盒内应有产品说明书，说明书内容包括：组件名称、型号，简要工作原理和主要技术指标，极限工作条件，安装尺寸和管脚排列，使用注意事项等。 9.3 运输 包装好的产品可用常用的交通工具运输，运输中避免雨、雪的直接淋袭，烈日曝晒和猛烈撞击。 9.4 贮存 产品应贮存在环境温度为-10℃~+45℃，相对湿度不大于 80%且无腐蚀性气体、液体的仓库里，贮存期超过 12个月的产品，出库前，应按 5.4 节的规定进行光电特性测试，测试合格方可出库。