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SJZ9154.1-1987 用π型网络零相位法测量石英晶体元件参数 第一部分 测量石英晶体元件谐

更新时间：2025-07-12 17:46:15 大小：1M 上传用户：sun2152查看TA发布的资源 标签：石英晶体元件 下载积分：2分 评价赚积分 （如何评价?） 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

SJZ9154.1-1987 用π型网络零相位法测量石英晶体元件参数 第一部分 测量石英晶体元件谐振频率和谐振电阻的基本方法

1范围

本标准规定一个测量石英晶体元件谐振频率和谱振电阻的简单方法，并介绍一种适宜的测量网络。

本测量方法和网络适用于1MHz~200MHz的频率范围，频率测量准确度为10-0量级，重复性为10-~10-8，这依赖于被测晶体元件的类型。谐振电阻的测量准确度为士2%~

士5%，它依赖于电压测量的准确度。

但是，当频率在约100MHz以上时，因被测晶体元件并电容C。的影响，本测量方法的使用受到限制。为了能在这些条件下使用李测量方法，需要利用某种方法补偿C0。作为SJ/Z 9154.3-87（IEC 444-3）标准，将给出一个补偿C。的方法。注：本标准所包括的测量系统和网络已经改进，以保证达到本标准的要求。但是，按照本标淮第一版生产的网络并不因这些改进而作废。这些网络仍可被接受作为测量谐振频率fr和谐振电阻Rr的国际标准方法。如果将本标准所介绍的基准电阻略加修改，使它们能插入按IEC 444标准第一版制造的网络里，就可解决获得令认满戴的基淮电阻的问题。

2谐振频率的定义

正如附录A的A1.1条所定义的，晶体元件是具有复数传输导纳Y1z=G1z+jB1z的三端网络。

把晶体盒看作公共端。

对于玻璃外壳，第三端的定义见条款3。谐振频率是在规定条件下晶体元件本身的电纳B1z等于零的一对频率中较低的一个。在这一频率下，谐振电阻R；=1/G12.3基准面和屏蔽盒

由于晶体元件的引线电感，必须规定一个测量基准面。除另有规定外，这一平面位于离晶体元件的插脚或引线引出点2mm处。玻壳晶体元件的第三端是一个金属屏蔽盒，其内部尺寸为高27mm，基面40mm X 40mm（基面等于基准面），而且顶部封闭。晶体元件位于屏蔽盒基面的中心。


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SJZ9154.1-1987_用π型网络零相位法测量石英晶体元件参数_第一部分_测量石英晶体元件谐振频率和谐振电阻的基本方法.pdf 1M

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