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SJT11211-1999 石英晶体元件参数的测量 第5部分 采用自动网络分析技术

更新时间：2023-12-08 05:39:33 大小：1M 上传用户：sun2152查看TA发布的资源 标签：石英晶体 下载积分：2分 评价赚积分 （如何评价?） 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

SJT11211-1999 石英晶体元件参数的测量 第5部分 采用自动网络分析技术 本标准等同采用 EEC 444-5:1995《石英晶体元件参数的侧量:米用自动m络分析技术 和误差校正确定等效电参数的方法》。 这样，使我国石英晶体元件参数测量的电子行业标准与EEC石英晶体元件参数的测童标 准相一致，以适应此领域中国际技术交流和经济贸易往来迅速发展的需要，便于我国生产的 这类产品质量水平达到国际通用要求并在国际市场流通。 本标准与下述五项电子行业标准构成石英晶体元件参数测量的完整系列标准。 SJ/Z 9154.1- 87 用二型网络零相位法测量石英晶体元件参数 第一部分:用二型网 络零相位法测量石英晶体元件谐振预率和谐振电阻基本方法 (idt 1EC 414一1:1986) SVZ 9154.2一87 用二型网络零相位法侧量石英晶体元件参数 第二部分:测量石英晶 体元件动态电容的相位偏里法 (idt IEC 4“一2:1980) SJ/Z 9154.3一87 用二型网络零相位法测量石英晶体元件参数 第三部分:利用有并电 容 Co补偿的二型网络相位法测量频率达200M1iz的石英晶体元件两 端网络参数的基本方法 (idt EEC 414一3:1986) St/T 11210-199!)石英晶体元件参数的测量 第四部分:频率达30MHz石英晶体元件 负载谐振频率几和负载谐振电阻凡的测量方法及其他导出参数的 计算 (idt IEC 414一5一1988) SJ/T 11212-1999 石英晶体元件参数的测量 第六部分:激励电平相关性 (DID)的 测量 (idt一IEC444一6一1995) 本标准的附录A为标准的附录。 本标准的附录B为提示的附录。 本标准的附录C为提示的附录。 本标准由电子工业部标准化研究所归口。 1) IEC(国际电工委员会)是由各国家电工委员会 (IEC国家委员会)组成的世界性标 准化组织o EEC的目的是促进电工电子领城中标准化问题的国际合作。为此目的，除其他活 动外，IEC发布国际标准。国际标准的制定由技术委员会承担，对所涉及内容关切的任何 EEC国家委员会均可参加国际标准的制定工作。与EEC有联系的任何国际、政府和非官方组 织也可以参加国际标准的制定。IEC与国际标准化组织 (ISO)根据两组织间协商确定的条 件保持密切的合作关系。 2) IEC在技术问题上的正式决议或协议是由对这些问题特别关切的国家委员会参加的 技术委员会制定的，对所涉及的问题尽可能地代表了国际上的一致意见。 3)这些决议或协议以标准、技术报告或导则的形式发布，以推荐的形式供国际上使用， 并在此意义上，为各国家委员会认可。 4)为了促进国际上的统一，各IEC国家委员会有责任使其国家和地区标准尽可能采用 IEC标准。IEC标准与相应国家或地区标准之间的任何差异均应在国家或地区标准中指明。 国际标准IEC 444一5是由IEC第49频率控制和选择用压电与介电器件技术委员会制定 的。 本标准构成石英晶体元件参数的测量系列标准的第5部分。 EEC 444-1构成第一部分:用二型网络零相位法测量石英晶体元件谐振频率和谐振电 阻的基本方法 (第二版，1986)0 IEC 444一2构成第二部分:测量石英晶体元件动态电路的相位偏置法 (第一版，1980)0 EEC 444一3构成第三部分:利用有并电容Ca补偿的二型网络相位法测量频率达200KIRz 的石英晶体元件两端网络参数的基本方法 (第一版，1986) 0 IEC 444一4构成第四部分:频率达30M11z石英晶体元件负载谐振频率IL，负载谐振电 阻凡 的测量方法和其他导出参数的计算 EEC 444一6构成第六部分:激励电平相关性 (DLD)的测量 本标准文以下列文件为依据:表决批准本标准的详细资料可在上表列出的表决报告中查阅。 附录A构成标准的组成部分。 附录 B和附录 C仅供参考。

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SJT11211-1999_石英晶体元件参数的测量_第5部分_采用自动网络分析技术.pdf 1M

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