SJ_T 10785-2020 电子元器件详细规范 CL10型金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质

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资料介绍

SJ_T 10785-2020 电子元器件详细规范 CL10型金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器评定水平EZ 本规范按照 GB/T 1.1-2009 给出的规则起草。本规范是根据GB/T 6346.1101-2015《电子设备用固定电容器第11-1部分：空白详细规范金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器评定水平 EZ》起草的产品详细规范。本规范代替 SJ/T 10785-1996《电子元器件详细规范 CL10 型金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器评定水平EX本规范与 SJ/T 10785-1996 相比，主要变化如下：删除稳定性等级“IAND INFORMATIONIE由于评定水平由 E 改为 EZ，因此样品数调整（见农 B1分组中“可课性”试验由D改为ND C4 分组中“随湿度变化的特性”试验由 D 改为 ND： B1分组增加志耐溶剂”试验； 4.7“探动验加速度值取整，由“98 m/s2”改为“100m/s24.8“碰猫”试验加速度值电热由“300 m/s？”改为“00 m/s2”4.10.5 低气压”试验大气压力值取由“8.5 kPa”改为“8 kPa依据在规范4.12“耐久性”试验时血 2 000 h 改为 000 h依据品规格，删除“换耗角中“CR>10 μF”测试条件；补充规定 4.3“引强验条件佳据品结构，4.7“振动”试验条件由方向各2h，总持续时间6致为“二个方向各 2 h，总诗间4 h” 增加方.“电容器的标5.2“电容器的包装标志”；抽样方是由NEC 60410：1973 改为 GB/T 2828.1请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别这些利的责任。本规范由全国设备用阻容元件标准化技术委员会（SAC/TC 165）. 下列文件对于本文件的应用是必不可少的，凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改》适用于本文件，GB/T 2693-2001 电子设备用固定电容器第 1 部分：总规范GB/T 2828.1 计数抽样检验程序第 1 部分：按接收质量限（AQL）检索的逐批检验抽样计划GB/T 6346.11-2015 电子设备用固定电容器第11部分：分规范：金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器 GB/T 6346.1101-2015 电子设备用固定电容器第 11-1 部分：空白详细规范金属箔式聚乙燈对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器评定水平EZ 1.5 标志 1.5.1 通则电容器和包装的标志应符合 GB/T 6346.11—2015 中 1.6 的要求。 1.5.2 电容器的标志内容电容器的标志至少应包括下列内容；a）标称电容量及允许偏差 b）额定直流电压： c）制造年月： d）制造厂商标。 1.5.3 电容器的包装标志包装上的标志至少应包括下列内容： a）制造厂商标；b）产品型号；c）额定直流电压： d）标称电容量及允许偏差；e）数量； و 生产日期。 1.6 订货资料订购本规范所包括的电容器的订货单，应用明文或代码形式至少应包括下列内容标称电容量：标称电容量的允许偏差： c）额定直流电压： d）详细规范的编号及版本号，以及型号标记： و 包装说明。 1.7 放行批证明记录不要求。试验项目和性能要求的章条号引自GB/T 6346.11—2015 表 1 及本规范第 1 章。检查水平（IL）选自 GB/T 2828.1. 本表中： IL——检查水平；p——周期（月数）： n——样品数；c——允许的不合格品数；D——破坏性的；ND——非破坏性的。 "为了用每百万分之几不合格品数（10"）来检测产品出厂的质量水平，在100%检验后应进行抽样复验，抽样水平应由制造厂决定。计算10"数值时，任何一个参数失效都应判定为一个不合格项。在一个样本中，存在一个或多只不合格项时，则该批产品应被拒收。如果制造厂对尺寸测量设有统计过程控制（SPC）程序或其他方法以避免元件超出极限值，则该检验可由生产检验代替。 "如果出现一个不合格品，应使用新的样本重新进行该分组的全部试验，且不允许再有不合格品。在重新试验期间可以继续放行产品。

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