SJ 50033_184-2018 半导体分立器件 3CK4033 3CK4033UA 3CK403

更新时间：2023-09-06 12:57:34 大小：15M 上传用户：sun2152 查看TA发布的资源 标签：半导体分立器件 下载积分：4分评价赚积分（如何评价?）打赏收藏评论(0) 举报

资料介绍

SJ 50033_184-2018 半导体分立器件 3CK4033、3CK4033UA、3CK4033UB型硅PNP高频小功率开关晶体管详细规范. 范围本规范规定了3CK4033、3CK4033UA、3CK4033UB型硅PNP高频小功率开关晶体管（以下简称器件）的详细要求。本规范适用于器件的研制、生产和使用。 3.4电测试要求电测试应符合GB/T 4587-1994及本规范的规定。 3.5 标志标志应符合GJB 33A-1997和以下要求：a）批识别代码： b）生产厂标识： م 器件型号：3CK4033、3CK4033UA或3CK4033UB；d）器件序列号： e）器件质量保证等级标识：JP、JT、JCT 或JY级。质量保证规定 4.1 抽样和检验抽样和检验应按GJB 33A-1997和本规范的规定。 4.2 筛选（仅对 JT、JCT 和 JY 级） 4.2.1 通则应按GJB 33A-1997表2和本规范表3的规定100%进行，其测试应按本规范表4的规定进行，超过本规范表4极限值的器件应予剔除。 SJ 50033/184-20184.4 质量一致性检验 4.4.1 通则质量一致性检验应按GJB 33A-1997及本规范表4至表7的规定。 4.4.2 A 组检验 A组检验应按GJB 33A-1997的表3和本规范表4的规定进行。 4.4.3 B 组检验 JY级器件B组检验应按GJB 33A-1997的表4a和本规范表5的规定进行，JP、JT、JCT级器件B组检验应按GJB 33A-1997的表4b和本规范表6的规定进行。 4.4.4 C 组检验 C组检验应按GJB 33A-1997的表5和本规范表7的规定进行。 4.4.5 D 组检验有辐射强度保证的JCT级器件应按GJB 33A-1997和本规范表8的规定进行D组检验。 4.5 检验和试验方法 4.5.1 脉冲测试脉冲测试应按GJB 128A-1997的4.3.2.2的规定。 4.6 宇航级器件定级试验材料要求鉴定检验时，宇航级器件应提交以下材料：a）器件在最高工作温度和最低工作温度的全参数测试数据。 b）器件最大额定值的验证数据或证明资料。 c）器件进行稳态工作寿命摸底试验的数据。摸底试验时间：4 000 h或至少一半的器件出现失效，取小者。 4.7 工艺过程控制补充要求除GJB 33A-1997中规定的工艺过程控制外，承制方应按附录B的规定对参数一致性进行监控。交货准备 5.1包装要求包装要求应按GJB 33A-1997的规定。 5.2 贮存要求贮存要求应按GJB 33A-1997的规定。 5.3 运输要求运输要求应按GJB 33A-1997的规定。 6 说明事项 6.1 订货资料订货文件应规定器件的质量保证等级、本规范的编号及需要时其它要求。 6.2 失效处理 6.2.1 当外引线严重锈蚀，短、断路，接触不良，功能不正常视为严重失效。 6.2.2 对于严重失效，要进行失效分析，并提供失效分析报告。分析结果若与批次有关，则该批不得提交。