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基于电桥失衡效应的高随机性PUF电路设计

更新时间：2020-09-17 06:55:28 大小：615K 上传用户：IC老兵查看TA发布的资源 标签：电桥失衡 下载积分：1分 评价赚积分 （如何评价?） 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

通过对物理不可克隆函数（Physical Unclonable Functions, PUF）电路和电桥失衡效应的研究,提出一种高随机性 PUF 电路设计方案.该方案首先利用工艺偏差导致电桥失衡产生随机偏差电压,然后结合电压型灵敏放大器产生随机的、不可克隆的响应信号.在TSMC 65nm CMOS工艺下,采用全定制方法设计PUF电路, PUF单元电路的版图面积为2.23μm×2.43μm.通过Spectre软件,在不同电压下对所设计PUF电路进行Monte Carlo仿真验证,分析其逻辑功能、随机性等特性.实验结果表明：所设计的PUF电路在电源电压1.2 V和温度25℃下随机性可达51.8%.

Through researching on the physical unclonable function （PUF） circuit and bridge unbalance effect, a high randomness PUF circuit is proposed in this paper. In this scheme, random deviation voltages are generated from bridge unbalance caused by process deviation. Then, random deviation voltages are inputted into sense amplifier to obtain response which is random and unclonable. Under TSMC 65nm CMOS process, the full custom design method is adopted. The layout area of PUF circuit is 2.23μm×2.43μm. Using Spectre software, Monte Carlo simulation results verify the designed PUF circuit under different voltage conditions. And also, the logical fun...

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