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Pt膜温度传感器批量测试分选系统硬件设计

更新时间:2020-03-21 09:53:49 大小:2M 上传用户:IC老兵查看TA发布的资源 标签:温度传感器 下载积分:3分 评价赚积分 (如何评价?) 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

温度是人类生活中相当密切的物理量,也是人类最早进行检测和研究的物理参数。温度亦是工业过程中最普遍、最重要的操作参数之一。随着社会的发展与进步,温度检测日益重要,应用范围迅速扩大。在工业、农业、交通运输、防灾、医疗、空间和海洋开发以及家用电器等领域中,都要求有温度量的检测。但是测试的低效率一直是影响产品质量、制约生产效率提高的主要因素。因此为更有效的解决温度传感器的自动批量测试、分选问题,从而能够更加快速、准确检测批量温度传感器性能参数,研制开发出一套实用高效的智能化传感器测试系统已迫在眉睫。      本课题以Pt膜温度传感器为研究对象,使用MSP430作为主控器件设计了Pt膜温度传感器的批量测试、分选系统,具有多通道选择、定点测试和数据传输等功能。本课题的主要研究工作有:      1.采用四线制测量方式进行100通道的测试系统信号调理模块设计,提高批量测试系统的精度。      2.采用自动调节输出三档电流的恒流源设计,并采用不同增益的放大电路与之匹配,以满足多种Pt电阻的测试要求。      3.采用16位单片机进行测试系统设计,实现Pt膜温度传感器性能参数测试、显示及通讯等工作。      本测试系统的研制有效地解决了批量温度传感器性能参数快速、准确检测这一传感器企业亟待解决的问题,为组建类似的检测系统提供了可以借鉴的方法和系统构架。  

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