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NCP1606芯片指标测试系统设计
资料介绍
电网污染对设备正常运行的影响已引起人们的重视，为此有源功率因数校正技术得到了广泛应用，许多芯片生产商开始开发和生产有源功率因数控制芯片。为了满足测试此类芯片的需要，论文给出了一个基于单片机的芯片指标测试系统，用于测试NCP1606芯片的10组性能指标参数。
论文简要介绍了有源功率因数校正技术和有源功率因数控制NCP1606芯片，给出了NCP1606芯片的指标测试系统的设计方案，详细设计了电源电路、D/A转换电路、液晶显示模块电路、可调电压源电路和电流测量电路等，并编写了芯片开启和关断电压、故障电流和空载电流等10组指标参数的测量程序。
测试结果表明，论文设计的测试系统可以对NCP1606芯片的10组指标参数进行测试，而且其测试精度达到了芯片数据手册的要求。此系统经过修改可以推广到类似芯片的指标测试。
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| 文件名 | 大小 |
| NCP1606芯片指标测试系统设计.pdf | 13M |
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