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数字IO电路板的嵌入式测试性设计方案

更新时间：2020-10-23 23:26:21 大小：332K 上传用户：gsy幸运查看TA发布的资源 标签：io电路板嵌入式 下载积分：1分 评价赚积分 （如何评价?） 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

近年来，随着DSP、FPGA等大规模集成电路的发展，电子系统的性能也在大大提高，但同时给电子系统带来了新的测试和故障诊断问题;为了解决电路板快速诊断维修问题，嵌入式测试正以全新的概念成为板级电路测试的研究方向；文中从嵌入式测试的基本概念出发，介绍了嵌入式边界扫描、非侵入式测试等先进的板级嵌入式测试技术，并阐述了模拟嵌入式测试性设计的难点和基础电路原则，同时给出了基于FPGA的嵌入式测试控制器设计方案；然后，面向数字10电路板，针对其关键功能电路展开嵌入式测试性设计，简要说明了测试程序的开发与下载；根据测试验证结果，嵌入式测试性设计可以增强测试自动化、提高测试效率，从而能够更好地降低产品整个寿命周期的测试维修成本。

In recent years, with the development of DSP, FPGA and other VLSI, the performance of electronic systems is greatly increasing. However, they also brought a new problem of testing and fault diagnosis at the same time. For solving the problem of fast diagnosis and maintenance on circuit board, the embedded test has becoming a research topics. Based on it, the embedded boundary-scan technology and the non-incursive board test technology are introduced firstly. Then the difficulty of the analog BIST （built-in self test） and its fundamental principle are illustrated. And an embedded controller solution based on FPGA is given. The embed...

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