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高量程加速度计测试电路板的可靠性分析

更新时间：2020-07-11 12:40:57 大小：1M 上传用户：守着阳光1985查看TA发布的资源 标签：加速度计 下载积分：5分 评价赚积分 （如何评价?） 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

测试电路是高量程加速度计的重要组成部分,其抗冲击能力直接影响高量程加速度计的可靠性.在理论分析高量程加速度计测试电路在冲击环境下的失效模式与机理的基础上,运用ANSYS/LS-DYNA对测试电路的抗过载能力进行了模拟仿真.完成了测试电路在0-40 000 9范围内的冲击测试.试验结果发现在19 750 g的冲击下电路失效.并且对电路板的可靠性采用应力-强度干涉模型进行评估.

The reliability of high range accelerometer was directly effected by the memory circuit＇ s anti-impact ability, which is an important part of the high range accelerometer. In the basis of theoretical analysis the failure mode and mechanism of the memory circuit under impact environment, ANSYS/LS-DYNA was used to simulate the anti-impact ability of the memory circuit. The impact testing was completed in the range of 0 - 40 000 g. The testing results show that the circuit was failure under 19 750 g impact, accelerometer. The reliability of the high range ac- celerometer measurement board can be evaluated by stress--strength interference mode.

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