积分商城

最新搜索： C语言 solidworks2020 5630DSA lt9611 RK3568 VQFN24
您现在的位置是：首页 > 技术资料 > 一种基于电压控制的扫描测试功耗优化方法
推荐星级：
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5

一种基于电压控制的扫描测试功耗优化方法

更新时间：2020-05-15 06:17:42 大小：250K 上传用户：IC老兵查看TA发布的资源 标签：电压控制 下载积分：3分 评价赚积分 （如何评价?） 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

提出了一种通过电压控制来实现扫描测试低功耗优化的方法（压控法）．该方法主要采用插入门控晶体管来控制组合逻辑单元供电，从而有效地解决了在扫描测试移入过程中测试信号向组合逻辑的无用传播，由于组合逻辑的供电受到控制，因此压控法不仅有效降低了无用的动态功耗，同时也大大降低了由于供电所产生的漏电静态功耗．而且门控晶体管的插入对于当前设计的面积和时序影响都很小．实验结果表明，压控法对面积和延迟的影响远远小于以往插入逻辑门单元的方法，同时对功耗的优化最高可达近32％的改善．

This paper proposed a method to accomplish scan test low-power optimization through voltage control. This method is named voltage-control method for short. It controls the power supply of combination logical units mainly through gating transistor insertion. It effectively solves the problem of the useless propagation to combination logic from test signals in the process of the shift- in of scan test. The power supply of combination logic is controlled, thus the voltage-eontrol method not only effectively reduces useless dynamic power, but also substantially reduces the leakage current static power caused by power supply. Also the insertion of gating transistor has little influence on the designed area and ti...

部分文件列表

文件名 大小
一种基于电压控制的扫描测试功耗优化方法.pdf 250K

【关注B站账户领20积分】

相关下载

全部评论(0)

暂无评论
评论赚积分>>

上传资源 上传优质资源有赏金

热门标签

更多>>

最新上传

  • 打赏
  • 30日榜单

热门下载

资料专题

推荐下载

本站上的所有资源均为源于网上收集或者由用户自行上传，仅供学习和研究使用，无任何商业目的，版权归原作如有侵权，请 来信指出，本站将立即改正。

ICP许可证号：京ICP证070360号     21IC电子网 2000- 版权所有

京ICP备11013301号

京公网安备 11010802024343号