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数模混合电路可测试性设计研究

更新时间：2020-03-27 12:41:42 大小：11M 上传用户：守着阳光1985 查看TA发布的资源 标签：数模混合电路 下载积分：3分评价赚积分（如何评价?）打赏收藏评论(0) 举报

资料介绍

电子设备传统设计思路存在部分故障难以检测、测试成本高等问题，难以适应当前电子设备的设计。可测试性设计技术作为一种新的设计思路，逐渐成为主流的测试技术。根据相关技术和规则，对电路进行可测试性设计可以提高电路可观察性、可控制性。某控制类电子系统内一种典型的数模混合电路有高可靠性、高故障检测率和隔离率的设计需求。通过仿真发现该电路测试性水平较低，达不到测试性指标。因此，本文以该电路为对象，研究相关测试性分析评估、可测性设计及验证技术，以提高其测试性水平。具体工作如下:

(1)提出了适合某电子系统数模混合电路的测试性分析与设计的方案。分析了可测性设计技术的结构设计方法和专项设计方法，详细介绍了边界扫描的原理、结构组成和功能应用，针对某电子系统数模混合电路的功能结构特点，选择运用测试性建模、分析与评估的方法和边界扫描技术，作为提升其测试性水平的分析和设计方法，明确了总体实现方案，阐述了该方案各步骤的研究内容。

(2)建立了该电路的多信号测试性模型并完成测试性建模分析评估。研究对比了逻辑模型、信息流模型、混合诊断模型、多信号流图模型等测试性建模方法;分析该电路功能组成和关键器件的故障模式作为建模的基础数据;选择基于多信号流图方法的建立了电路的测试性模型，并通过TEAMS软件仿真对电路进行了测试性评估，从而指导测试性设计的改进。

(3)提出了适合该电路的基于移位“1”算法的改进算法。通过研究对比多种边界扫描测试矢量生成算法，如移位“1”或移位“0”算法、改良计数序列算法、等权值算法和等权值补偿算法。结合该电路提出了基于移位“1”算法的改进算法，结果证明相对其他算法，该算法在完备性和紧凑性的综合性能上更有优势。

(4)完成针对该电路的测试性验证平台设计。主要内容有故障注入电路设计;测试控制电路的设计以及扫描链路的设计;测试平台单片机的程序设计和计算机的人机交互界面设计。

(5)完成基于故障注入的测试性验证实验。主要内容有完整性测试、互联测试、簇测试、场效应管测试等。结果表明:该测试系统正常工作，故障检测率和故障隔离率得到有效提高，可测试性分析及设计方法在电子设备数模混合电路设计和应用中是有效可行的。