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集成电路芯片测试仪
资料介绍
随着电子技术的迅速发展，数字集成电路的应用越来越广泛，二74系列逻辑芯片在数字电路中又有着非常广泛的应用，数字电路设计中要保证设计电路的准确性，必须要求所用的芯片逻辑功能完整，但若对所用芯片进行逐一测试，未免有些繁琐，另外，在数字电路的维修中经常要对芯片的型号和好坏进行判断，针对上述需要，我们针对常用的74系列逻辑芯片设计了74系列逻辑芯片测试仪，用来检测常用74系列芯片的型号和逻辑功能的好坏，从而使数字电路的设计，制作与维修过程得到简化，达到事半功倍的效果。
1.1显示模块
显示模块主要实现对芯片检测结果的显示，包括芯片型号及芯片功能是否完好，同时也要给用户提供必要的提示信息，提高系统界面的友好性。
1.1.1方案一：采用数码管显示
由于所有芯片均为74系列，因而只显示最后两位编号即可实现对芯片型号的显示，但由于数码管显示效果较差并且动态扫描时会占用很多CPU时间，因而舍弃该方案。
1.1.2方案二：采用点阵显示
采用有二极管构成的16×16点阵，通过主控单元的控制可以实现汉字及英文字符的显示，可以显示芯片型号以及芯片功能完整性，采用点阵显示的优点是显示内容可以随意控制，显示内容丰富。但点阵显示也存在占用I/O口较多并且会占用大量CPU时间的缺点，另外，在使用点阵显示是还要存储大量的字模信息，而由于本系统需要扫描大量的逻辑芯片，为节约成本又未扩展程序存储区，因而考虑到所用主控单元I/O口资源有限和对程序存储区容量的限制，舍弃该方案。
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