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GJB 128B-2021 半导体分立器件试验方法
资料介绍
GJB 128B-2021半导体分立器件试验方法已于2022年3月1日实施，相对现行标准，新版标准对部分内容进行了变更。针对我司VDMOS产品涉及的各种方法，我司对新标准与旧标准的差异进行了分析。
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| GJB_128B-2021.pdf | 908K |
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资料：bitboy
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