GBT2423.25-1992 电工电子产品基本环境试验规程试验zam 低温低气压综合试验

更新时间：2023-12-01 06:10:17 大小：202K 上传用户：xuzhen1 查看TA发布的资源 标签：电工电子 下载积分：2分评价赚积分（如何评价?）打赏收藏评论(0) 举报

资料介绍

GBT2423.25-1992 电工电子产品基本环境试验规程试验zam 低温低气压综合试验本标准参照采用国际标准IEC 68-2-40（1976），《基本环境试验规程第二部分试验 AM 低温/低气压综合试验》及其 1983 年的修改件。试验 Z/ 1 主题内容与适用范围 1.1 主题内容本标准规定了散热和非散热试验样品低温（温度渐变和突变）和低气压综合试验的试验目的、试验设备、严酷度等级和试验程序。 1.2 适用范围 1.2.1 本标准规定的综合试验通常只有在试验样品进行单一环境试验不能揭示综合环境影响时使用。 1.2.2 本标准规定的试验方法只适用于在试验期间能够达到温度稳定的试验样品。 1.2.3 本标准规定的试验方法一次只能试验一个散热试验样品，散热试验样品一般应按 GB 2423.1的规定在无强迫空气循环的试验箱中进行。 1.2.4 本标准仅适用于气压大于 1 kPa 的压力试验。 1.2.5 有关高度、压力和温度的关系见 GB 19201.2.6 GB 2423.1中有关非散热试验样品试验和散热试验样品试验应用对比的指导也适用于本标准注：非散热试验样品的定义按GB 2422中的规定，不应在低气压下测量其最热点的温度。 2引用标准 GB 1920《标准大气（30 公里以下）》 GB 2421 电工电子产品基本环境试验规程总则 GB 2422 电工电子产品基本环境试验规程名词术语GB 2423.1 电工电子产品基本环境试验规程试验A：低温试验方法GB 2423.21 电工电子产品基本环境试验规程试验M：低气压试验方法GB 2423.22 电工电子产品基本环境试验规程试验N：温度变化试验方法GB 2424.1 电工电子产品基本环境试验规程高温低温试验导则GB 2424.15 电工电子产品基本环境试验规程温度/低气压综合试验导则3试验目的和一般说明 3.1 试验目的本试验的目的是确定元件、设备和其他产品对其使用和（或）贮存中遇到的低温-低气压综合环境的适应性。 3.2 一般说明 3.2.1 本试验是 GB 2423.1 试验 Ab 或 Ad 和 GB 2423.21 试验 M 的综合 3.2.2试验中，试验样品首先应经受有关标准中规定的严酷度等级的低温试验。如果试验过程中试验样品要工作，则要对其进行检测，以保证试验样品能够正常工作。而后在温度保持在规定值的情况下，将试验箱压力降到有关标准规定的试验压力。将此温度、压力条件保持规定的时间。图1和图2表明了这一程序的剖面。 4 试验设备 4.1 试验箱 4.1.1 试验箱应能产生和保持GB 2423.1试验Ab或试验Ad和GB 2423.21试验M中规定的试验条件，但在温度和压力变化期间，对箱壁的温度要求不适用。 4.1.2 恢复压力时，应避免试验箱的辅助设备、装置和引入的空气对试验箱内的空气产生污染。 4.2 安装散热试验样品进行试验时，其安装应符合GB 2423.1试验Ad中规定的要求。 5 严酷等级 5.1 一般要求 5.1.1严酷度用温度、气压和暴露持续时间表示，有关标准中应规定试验选用的严酷度等级。 5.1.2 温度、低气压值及其容差和持续时间一般应符合GB 2423.1试验Ab或试验Ad和GB 2423.21试验 M 中的规定。注：当空气压力低于10 kPa时，难以达到试验A中规定的温度容差要求。此时，有关标准可规定更大的容差。 5.1.3 暴露持续时间应从试验样品在低气压条件下达到温度稳定时算起（见图1和图2）. 5.2 温度、气压和持续时间的优先等级。应优先从下表中选取一组温度、气压和持续时间值。