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基于FPGA的集成电路测试系统设计探讨
资料介绍
由于集成电路功能和参数的不断增加,其稳定性也受到了一定的威胁。因此,要想保证集成电路的稳定性,测试系统的存在是非常必要的,本文在FPGA的基础之上,对集成电路测试系统设计的一些相关内容,进行了分析和阐述,其主要目的就是判断集成电路运行是否处于稳定的状态。
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| 基于FPGA的集成电路测试系统设计探讨.pdf | 2M |
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