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基于单片机和FPGA的频率特性测试仪的设计

更新时间：2019-04-19 12:00:40 大小：1M 上传用户：sun2152查看TA发布的资源 标签：单片机fpga频率特性测试仪 下载积分：0分 评价赚积分 （如何评价?） 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

摘要：该系统基于扫频外差基本原理，以单片机和FPGA构成的最小系统为控制核心，可在任意指定频段内测量被测网络的幅频和相频特性并显示相应曲线。系统分DDS扫频信号源、被测网络、幅度和相位检测、控制模块及幅频、相频特性曲线显示等部分，在100Hz-100kHz范围内可自动步进测量被测网络的幅须特性和相频特性并自动设置频段范围，观察不同频段内网络的幅须特性和相须特性，并在示波器上同时显示幅须曲或和相须由线。

关键词：扫频测试；现场可编程门降列（FPGA）；频率特性；直接数字式须率合成（DDS）

频率特性是网络的性能最直观反映。频率特性测试仪是测量网络的幅频特性和相频特性，并显示相应曲线的一种快速、方便、动态、直观的测量仪器，可广泛应用于电子工程领域。

该测试仪以扫频外差为基本原理，并以单片机和FPGA构成的最小系统为控制核心，很好地完成对有源双T网络进行频率在100Hz~l00kHz范围内的幅频响应和相频响应特性的测试，并实现在通用数字示波器上同时显示幅频和相频响应特性曲线。


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