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EMI测试基本知识介绍

更新时间：2019-07-20 23:07:25 大小：2M 上传用户：sun2152查看TA发布的资源 标签：emi 下载积分：0分 评价赚积分 （如何评价?） 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

根据EMI千扰的形成可以分为：差模DM（Differential mode）和共模CM

（Common mode）。差模也称作对称模式（symmetric mode）或正常模式（normal mode）；而共模也称作不对称模式（asymmetric mode）或接地滋漏模式（ground leakage mode）。共模强扰包括共她图抗的共模干扰（Common-Mode Coupling）和电磁场对导线的共模干扰（Field to cable/trace Common-Mode Coupling），前吉是因杂批产生源与被干扰电路间共用同一接地电阻所产生的其模干扰，解决方法可由实行地的切割来避免共地干扰问题；后者则为高电碳磁能最所形成的电碳场对设备间之配钱所造成的干扰，可由屏酸隔离（Shielding）的方法来处理场钱的干扰问题，而差模干扰，常见的是导钱对导钱的差模干扰（Cable to Cable Differential-Mode Coupling），干挑送径为某一导钱内的干扰信号感染到其他导钱而入被干扰电路，属于近场干扰的一种，可通过加安钱与线之间的距离来处理此类干扰问题。


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