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椭圆偏光法测量单层石墨烯厚度
资料介绍
石墨烯，石墨单层，由于其特殊的电子特性已经广泛地被很多研究人员所重视。沉积在各种基地上的石墨烯薄膜的表征相比于沉积在SiO2上石墨烯薄膜表征一直是一个艰巨的任务。本文论述了一种结合反射和椭偏技术的快速，灵敏，非破坏性的表征石墨烯在各种基底上（包括硅）的方法。在190-1000nm的波长范围内，从多角度，偏振光的测量推导出的光学特性显示多层石墨烯是一种双折射率材料，并且光学性质与膜厚有关。
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