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CCD安全操作要求与ESD防护
资料介绍
的基本特征
的基本单元是由MOS(金属-氧化物一半导体)构成的,属于高阻静电敏感器件;的物理结构属于空腔结构,密封性要求严格;由玻璃封装,属于易粹品,对力学环境和安装精度要求高;属于精密光电器件,对照射光源敏感并有严格要求....
损坏
1).CCD损坏原因
CCD是指由物理的、化学的、静电的、操作不当等原因CCD片内光敏元损坏,输出端损坏、动态范围变小、暗电流显增加、使其失去固有的光电特性丧失或CCD性能明显降低以至无法正常使用。
2).CCD损坏的类型
物理损坏:CCD外部盖玻璃损坏,CCD引脚扭曲、折断使其无法正常使用。
化学损坏:CCD引1脚镀金被化学腐蚀、盖玻璃密封胶老化使得空气进入CCD光敏元表面,氧化腐蚀光敏元和相关的引线使其无法正常使用。
静电损坏:CCD器件为静电敏感器件容易受到静电的感应而损坏,静电的特点是高电压、低电量、小电流和作用时间短的特点。失效模式:突发d.人为因素
性失效和潜在性失效。
※操作不当不当:安装与操作环境不符合要求、安装与操作工艺不成熟、不规范。
※工作和存贮环境:过于干燥、温度过高、存放时间过长等使防静电包装材料及包装箱的防静电效能失效,器件受到静电损坏;
*电路设计存在缺陷:CCD工作电压加电顺序或驱动时序不符合要求等;
*CCD相机测试误操作:CCD的输入、输出管脚之间对地瞬间短路造成CCD的损坏;
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