基于ATmega16L的PTCR多参数测试仪

更新时间：2020-03-13 01:13:18 大小：965K 上传用户：zhengdai 查看TA发布的资源 标签：atmega16l 下载积分：3分评价赚积分（如何评价?）收藏评论(0) 举报

资料介绍

PTCR主要性能参数的测定，对其理论研究和实际应用都具有十分重要的意义。本论文依据国家标准，设计了PTCR多参数测试系统，详细介绍了硬件及软件设计过程。在论文的开始部分，介绍了仪器仪表的国内外发展现状，以及单片机技术在仪器仪表领域的应用。分析了已经开发的PTCR参数测试系统的优缺点，并结合新的技术和方法对PTCR参数测试系统提出了新的解决方案，即基于单片机技术和LCD技术的PTCR多参数测试系统。本系统选用了ATmega16L单片机作为控制芯片，以ATmega16L为基础搭建了一个核心控制电路，配合周围独立的测试模块即可对多种PTCR参数进行测试。论文详细分析了硬件设计中用到的原理和方法。文中还介绍了显示模块FM12864液晶的接口电路及控制方法。软件部分是整个系统设计的核心工作。软件包括六大模块，即主程序、动作时间测试程序、耐电压测试程序、工频电流冲击测试程序、LCD显示驱动程序及环境温度检测程序。由于系统复杂，软件设计难度较大，所以程序采用C语言编写，大大提高了程序设计的效率。软件设计中坚持了模块化的原则，将相关的程序放在一起，独立成单独的文件，可有效避免各测试功能发生资源冲突，保证系统稳定有序地运行。采用AVR STUDIO软件对编译后的程序进行了单步、过程及断点仿真，确保程序设计正确。论文最后对系统的调试过程进行了介绍，分析了调试过程中遇到的主要问题及其解决办法。系统实际运行结果表明，该系统能准确方便地完成PTCR动作时间、耐电压及工频电流冲击特性的测试，还能对测试环境的温度进行准确检测，达到了预期的设计目标。