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基于ATE的IC测试原理、方法及故障分析

更新时间:2019-06-09 21:49:02 大小:392K 上传用户:z00查看TA发布的资源 标签:ateic测试 下载积分:2分 评价赚积分 (如何评价?) 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

随着我国集成电路产业的飞速发展,集成电路测试和服务在产业链中的作用将越来越大.专业化的集成电路(Ic)测试业是集成电路产业中一个重要组成部分,从产品设计开始至完成加工全过程,供给客户的产品是否合格就是通过测试完成的. 在当今集成电路产业中,由于专用测试仪的局限性、非标准性以及专用测试仪开发的周期过长的问题,使得专用测试仪的使用受到了较大的限制.而通用测试仪(ATE)以它的通用性、标准性、便捷性以及开放性迅速成为了集成电路测试行业的主流.

ATE,即Automatic test equipment,是用来给测试芯片提供测试模式,分析芯片对测试模式的响应来检测芯片的测试系统.本文以 ATE为基础,讨论了集成电路测试的基本原理和测试方法,并进行了故障分析.


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