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基于ARM7数字集成电路测试仪的设计
资料介绍
本设计采用ARM7系列LPC2103作为主控芯片,能够对74系列和CMOS40系列等芯片快速检测,并可以将被检测芯片的信息和检测结果在LCD液晶显示屏幕上显示出来,该测试仪支持存储信息升级以适应新的集成电路检测的要求。
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| 基于ARM7数字集成电路测试仪的设计.pdf | 162K |
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