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光伏电池及组件PID产生的原理介绍及测试方法
资料介绍
PID（Potential Induced Degradation）Test为电位诱发衰减测试，也称之为System Voltage Durability Test。
PID最早是Sunpower在2005年发现的。组件长期在高电压作用下使得玻璃、封装材料之间存在漏电流，大量电荷聚集在电池片表面，使得电池片表面的钝化效果恶化，导致FF、Isc、Voc降低，是组件性能低于设计标准。在2010年，NREL和Solon证实了无论组件采用何种技术的p型晶硅电池片，组件在负偏压下都有PID的风险。
PID的三种衰减模式-11.半导体活性区受到影响，导致分层现象：
活性层内离子的迁移，导致电荷聚集或者带电离子穿过半导体材料表面电荷，影响半导体材料表面的活性区。严重情况下，离子的聚集，例如钠离子在玻璃表面的聚集，将导致分层现象。
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