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基于IDDT的数字电路故障诊断研究
资料介绍
数字电路的电阻性开路故障是在电路直接相连的内部节点之间由于缺陷电阻的存在而引起的故障。开路故障不会立即引起电路的功能性故障，但它会引起延时性故障，并且不能用电压的方法来探测。针对数字电路中的电阻性开路故障，采用了数字电路的瞬态电流，IDDT测试和利用小波技术的定位方法。
The resistive-open defects in the digital circuit refers to an imperfect circuit connection of resistors between two circuit nodes that should be connected. A resistive-open defect does not cause a function fault immediately, but it may cause the delay fault, and cannot be detected with the method of voltage, A test method of transient current （IDDT） for resistive open faults is proposed. It can ensure the location of the fault by means of wavelet analysis.
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