积分商城

最新搜索： 8051 ip C8051F310 三菱fx3u编程手册 STM32Cube高效开发教程 基础篇 萝莉遥控 filter_solution
您现在的位置是：首页 > 技术资料 > 一种可配置的老化预测传感器设计
推荐星级：
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5

一种可配置的老化预测传感器设计

更新时间：2020-07-23 01:38:56 大小：490K 上传用户：zhiyao6查看TA发布的资源 标签：传感器 下载积分：5分 评价赚积分 （如何评价?） 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

随着工艺尺寸的缩减,老化导致的电路不稳定现象越来越严重。由于NBTI效应造成的老化是渐进的,因此老化是可预测的。由此提出了一种具有可配置延迟单元的老化预测电路,并将其中的稳定性校验器和锁存器的功能进行了整合。在老化的不同时期,针对老化程度,动态调节延迟单元的延迟大小,得到不同的保护带宽度,从而提高老化预测的准确率。并通过反馈电路达到对稳定性校验器的输出进行锁存的目的。与经典结构相比,电路在面积上平均节省20.6%左右,在功耗方面减少36%左右。Spice模拟器的仿真结果证实了电路的优越性。

With the shrink of technology to scale,circuit instability caused by aging is becoming an increasingly serious problem.Circuit failure prediction is applicable for overcoming this reliability challenge.It is possible due to the gradual nature of aging degradation.In this paper,a novel integrated sensor with configurable delay element for circuit failure prediction is proposed.In order to improve the detection rate,delay of the delay element that finally forms the guard band interval can be adjusted for different degrees of severity in the aging process.Moreover,feedback circuit in the proposed design can complete latch function perfectly.The overhead is significantly small by comparing with th...

部分文件列表

文件名 大小
一种可配置的老化预测传感器设计.pdf 490K

【关注视频号领20积分】   【关注公众号立即送20积分】

相关下载

全部评论(0)

暂无评论
评论赚积分>>

上传资源 上传优质资源有赏金

热门标签

更多>>

最新上传

  • 打赏
  • 30日榜单

热门下载

推荐下载

本站上的所有资源均为源于网上收集或者由用户自行上传，仅供学习和研究使用，无任何商业目的，版权归原作如有侵权，请 来信指出，本站将立即改正。

ICP许可证号：京ICP证070360号     21IC电子网 2000- 版权所有

京ICP备11013301号

京公网安备 11010802024343号