积分商城

最新搜索： PL2303 altium Designer 20 电路设计与仿真从入门到精通 常用LOGO标识 microBUCK 入门教程 canopen
您现在的位置是：首页 > 技术资料 > 基于敏感寄存器替换的电路软错误率与开销最优化
推荐星级：
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5

基于敏感寄存器替换的电路软错误率与开销最优化

更新时间：2020-05-15 05:14:37 大小：521K 上传用户：守着阳光1985查看TA发布的资源 标签：寄存器电路 下载积分：3分 评价赚积分 （如何评价?） 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

随着集成电路的发展,逻辑电路对放射性粒子引起的软错误越来越敏感.现有的电路加固技术通常会带来较大的面积开销.综合考虑电路的软错误率和面积开销,提出一种新的电路加固评估指标FAP,并提出基于贪婪算法的寄存器替换技术,通过将电路的部分敏感寄存器替换为冗余寄存器来免疫电路中的软错误.针对贪婪算法有时不能达到可靠性和开销整体最优的局限,进一步提出可靠性-开销最优的启发式替换算法.实验结果表明,基于贪婪算法的寄存器替换技术只需50%的面积开销就可降低90%的电路软错误率;而可靠性-开销最优的启发式替换算法只需45%左右的面积开销,电路软错误率就降低达90%以上.与其他已有技术相比,电路软错误免疫技术在可靠性和面积开销间达到了更好的折中.

Continuous scaling of VLSI technology results in increasing vulnerability to radiation-induced soft errors of combinational and sequential logic circuits.Consequently,soft error issues are playing an important role in design considerations in nanometer integrate circuits.The conventional triple modular redundancy can solve soft error problem,but the serious area overhead are unacceptable.Other existing hardening techniques also lead to large area overhead.We present novel soft error immunity techniques in logic circuits,which can optimize soft error rate and area overhead of logic circuits effectively.Firstly,we propose an e...

部分文件列表

文件名 大小
基于敏感寄存器替换的电路软错误率与开销最优化.pdf 521K

【关注视频号领20积分】   【关注公众号立即送20积分】

相关下载

全部评论(0)

暂无评论
评论赚积分>>

上传资源 上传优质资源有赏金

热门标签

更多>>

最新上传

  • 打赏
  • 30日榜单

热门下载

推荐下载

本站上的所有资源均为源于网上收集或者由用户自行上传，仅供学习和研究使用，无任何商业目的，版权归原作如有侵权，请 来信指出，本站将立即改正。

ICP许可证号：京ICP证070360号     21IC电子网 2000- 版权所有

京ICP备11013301号

京公网安备 11010802024343号