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平面电容式无损探测传感器的研究

更新时间:2020-03-28 10:04:06 大小:11M 上传用户:songhuahua查看TA发布的资源 标签:传感器 下载积分:3分 评价赚积分 (如何评价?) 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

无损评估NDE(Nondestructive evaluation)技术是在不损害工件或材料使用性能的前提下,通过传感器获取被检测材料的信息,再将获得的信息转换成材料缺陷的参数来进行性能评价。

  本文针对非金属板中的异常或者损伤的检测,研究了一种结构简单、成本低和操作方便的平面电容传感器式NDE技术。

  首先,通过有限元方法分析了两电极平面电容传感器的结构参数对传感器有效电容量的影响。具体分析如下:1)分析了两电极平面电容传感器有效电容量与电极宽度和间距的关系,得出电极宽度s越大、电极间距g越小电容传感器的有效电容值C越大,且电极间距g对传感器的有效电容量影响更明显;2)分析了两电极平面电容传感器的有效探测深度与传感器探头电极宽度、电极间距的关系。

  然后,通过有限元方法分析了三电极平面电容传感器的结构参数对传感器有效电容量的影响。具体分析如下:1)分析了非金属板厚度和相对介电常数分布不均匀对传感器有效电容量的影响;2)分析了三电极平面电容传感器探头水平和垂直方向上的有效探测范围;3)对非金属板中的损伤进行初步定位探测;4)研究了非金属板中损伤深度和损伤大小对传感器有效电容量的影响。

  最后,利用AD7150/AD7745/AD7746芯片和STC89C52RC单片机设计相应的外接检测电路来研究损伤信息对电容传感器的有效电容量的影响。仿真和初步试验结果表明,平面电容传感器式NDE技术用于非金属板内部的异常或损伤检测和定位是可行和有效的。

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