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智能芯片测试系统开发与设计
资料介绍
本文介绍了智能芯片测试的重要地位，分析了芯片测试系统的发展和现状，提
出了相应的设计方案。系统选择美国NI公司的数据采集卡（NI-DAQ）PCI-6221对
待测参数进行采集，应用LabVIEW编程语言对该测试系统的控制部分以及结果比对
部分进行了设计，最终实现了一个闭环的测试系统的设计并给出测试结果，主要用
D/A芯片来实现设计。
与传统的测试方法相比，设计更开放与灵活，便于修改，成功的实现了数字端
口的控制，模拟量的采集以及结果的比对与显示。
关键字：虚拟仪器，LabVIEW，数据采集
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资料：STM32控制小米电机
全部评论(1)
2023-12-28 11:13:42xiejiaoyan118
很好，很需要