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闭环Boost电路电解电容的故障预测方法研究
资料介绍
为了实现闭环Boost电路中电解电容的故障预测,本文采用基于特征参数退化的方法,利用LS-SVM及LS算法对电解电容的特征参数序列进行预测,实现了电解电容的故障预测与剩余寿命估计.仿真及物理实验均证明了本文方法的有效性及准确性.
In order to realize failure prediction of capacitors in close-loop boost circuit,a method was adopted based on the degradation of characteristic parameter using LS-SVM and LS a result,the trend of characteristic parameters was predicted which realized the fault prediction and residual life estimation of the ulation and experiment result all proved the accuracy and effectiveness of the method.
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闭环Boost电路电解电容的故障预测方法研究.pdf | 353K |
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