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集成电路测试方法研究
资料介绍
< 集成电路测试方法研究>> 本课程目的在于研究集成电路的测试实现方法，可以用于指导集成电路的设计工作。
部分文件列表
| 文件名 | 文件大小 | 修改时间 |
| 陈新武DFT讲稿.doc | 3454KB | 2005-05-31 11:23:14 |
| www.pudn.com.txt | 1KB | 2007-06-04 14:14:22 |
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