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NI半导体测试系统STS
资料介绍
使用半导体测试系统降低测试成本
半导体测试系统(STS)系列产品是一套利用NI测试技术的产品级测试系统,适用于半导体生产测试环境。STS在完全封闭的测试头里面整合了NI PXI平台、TestStand测试管理软件以及LabVIEW图形化编程工具。它采用“集成到测试头”的设计,把产品的所有关键测试资源整合在一起,这些测试资源包括系统控制器、直流交流电源、射频仪器、待测设备接口以及分拣仪器和探头接口。这样的紧凑型设计减小了额外的占地空间,降低了功耗,减轻了传统ATE测试员的维护负担,从而节约了测试成本。此外,STS采用开放的、模块化的设计,使您可以利用最新的工业标准的PXI模块,获得更多的仪器资源和更强大的计算能力
部分文件列表
文件名 | 大小 |
NI半导体测试系统STS | 1M |
全部评论(8)
2020-03-20 16:20:35cxz_00
感谢分享
2018-12-07 10:23:23hbzjt2011
官方资料,可以对产品有更详细的了解!
2018-11-16 11:02:48电子星辰
还没怎么看懂,谢谢分享
2018-08-20 10:07:46reno5514
资料很好
2018-07-07 17:06:32zly1986ZLY
文章非常详细的介绍了半导体测试系统的相关内容,学习了,谢谢!