推荐星级：
- 1
- 2
- 3
- 4
- 5
基于STM32的频率特性测试仪的设计
资料介绍
本文提出了一种实用性频率特性测试仪的设计方案。该设计通过分析扫频信号输出性能指标,对相应的信号源和电流型反馈
运算放大电路进行结合,使用继电器控制Π型阻抗匹配网络,从而实现了输入和输出衰减网络。为了增加测试功能,采用两片AD8302芯
片的方法测量相位差和相位极性。采取STM32处理器作为中央处理器,使整体结构更为简单,解决了国内低频频率特性测试仪功能简单、
体积较大、价格昂贵等问题。
部分文件列表
| 文件名 | 文件大小 | 修改时间 |
| 基于STM32的频率特性测试仪的设计_吴涵旭.caj | 2657KB | 2020-07-03 09:11:26 |
相关下载
- 华为模块电源管理设计指导-(V100R001_02 Chi...
- 华为LGA模块PCB设计指导_V2.0_20150126.pdf
- HUAWEI Module USB Interface Descriptor Gui...
- HUAWEI ME909s-821 LTE LGA模块硬件指南V100R...
- HUAWEI ME909s-821 LTE LGA Module Acceptanc...
- HUAWEI 30 mm x 30 mm LGA Module Hardware M...
- HUAWEI 30 mm x 30 mm LGA Module Developmen...
- Altium_Designer_规则设置三例.pdf
- STM32F407产品技术培训-DSP库及其例程
- STM32F407产品技术培训-2.浮点单元.pdf
全部评论(0)