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芯片的封装测试技术与讨论
资料介绍
通过对EPSON生产的NS-6000系列高速IChandler的介绍,讨论了集成电路封装的测试原理和测试方法,并基于NS-6000系列handler,给出了具体测试实例分析。
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文件名 | 大小 |
芯片的封装测试技术与讨论.pdf | 961K |
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