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集成电路中的天线效应
资料介绍
天线效应会在MOS集成电路制造中引起良率和可靠性的问题，当芯片尺寸在深亚微米以下的工艺中更容易产生。介绍了集成电路中天线效应产生的原理，以及在版图设计中为避免天线效应所常用的几种方法。
Antenna effect will cause yield and reliability problems in MOS IC manufacturing, It is more common When chip process below deep sub - micron o Introduce the principle of antenna effect, and several methods used in layout design to avoid antenna effect in integrated circuit
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