积分商城

最新搜索： to-252 C语言 lt9611 ad C8051F 现代模拟集成电路设计
您现在的位置是：首页 > 技术资料 > 基于可编程器件的存储测试系统设计
推荐星级：
  • 1
  • 2
  • 3
  • 4
  • 5

基于可编程器件的存储测试系统设计

更新时间：2020-04-11 14:53:35 大小：5M 上传用户：IC老兵查看TA发布的资源 标签：可编程器件 下载积分：3分 评价赚积分 （如何评价?） 打赏 收藏 评论(0) 举报

资料介绍

存储测试是指在对被测对象无影响或影响在允许范围的条件下，在被测体内置入微型数据采集与存储测试仪，现场实时完成信息的快速采集与记忆，事后回收记录仪，由计算机处理和再现测试信息的一种动态测试技术。可编器件的诞生给存储测试系统带来了巨大的意义。本文就是针对存储测试系统的内部电路部分展开研究的，根据可编程器件的特点，实现了模拟阵列和数字阵列可自由配置和在线编程的功能。      本文首先从数字电路部分和模拟电路部分进行了分析，并分别用可编程模拟器ispPAC20和专用集成电路进行了存储模块设计和研究。最后，通过PSoC方案与其它方案的比较，控制器选用赛普拉斯公司的PSoC片上系统微处理器作为控制核心，该处理器除具有一般MCU所具备的数字处理功能外，PSoC芯片内部还集成了不同数量的模拟模块以及相关的模拟总线、比较总线和模拟缓冲器。用户可以通过有效的配置片内的数字和模拟模块资源，来实现所需的特定功能，节省了系统资源，同时由于PSoC引入了动态可重新配置功能，真正实现了在线可编程，因此PSoC具有强大的柔性及集成能力，省去了单片机系统扩展带来的麻烦，提高了系统的可靠性、稳定性。文中对存储测试系统的硬件和软件设计进行了详细的描述。软件的设计采用模块化设计，提高软件的执行效率。

部分文件列表

文件名 大小
基于可编程器件的存储测试系统设计.pdf 5M

【关注B站账户领20积分】

相关下载

全部评论(0)

暂无评论
评论赚积分>>

上传资源 上传优质资源有赏金

热门标签

更多>>

最新上传

  • 打赏
  • 30日榜单

热门下载

资料专题

推荐下载

本站上的所有资源均为源于网上收集或者由用户自行上传，仅供学习和研究使用，无任何商业目的，版权归原作如有侵权，请 来信指出，本站将立即改正。

ICP许可证号：京ICP证070360号     21IC电子网 2000- 版权所有

京ICP备11013301号

京公网安备 11010802024343号